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加熱爐 heating furnace, reheating furnace
火焰爐 flame furnace
環(huán)形爐 circular rotating furnace
退火爐 annealing furnace, annealer
真空退火爐 vacuum annealing furnace
連續(xù)酸洗機(jī)組 pickle line processor：帶鋼不間斷地通過幾個酸性槽進(jìn)行酸性。
軋輥 roll
擠壓輥 extrusion roll
輥道 roll table
延伸輥道 extension roller table
芯棒 mandrel
衛(wèi)板 guard
導(dǎo)板 guide
帶卷箱 coil box
活套 loop
組織性能與測試
穿晶斷裂 transgranular fracture：穿過多晶體材料的晶體內(nèi)部發(fā)生的斷裂。
晶間斷裂 intergranular fracture：沿著晶粒界間發(fā)生的斷裂。
解理斷裂 cleavage fracture：沿著給定的晶面—解理面發(fā)生的斷裂（是穿晶斷裂的方式之一）。
剪切斷裂 shear fracture：沿著最大剪應(yīng)力的作用面發(fā)生的斷裂。
疲勞斷裂 fatigue fracture：在低于材料的屈服強(qiáng)度的反復(fù)或交變應(yīng)力作用下發(fā)生的斷裂。
延遲斷裂 delayed fracture：金屬遭受本不足以直接引起斷裂的靜應(yīng)力但經(jīng)過一段時間卻發(fā)生了斷裂。
斷口 fracture surface：金屬件的斷裂面或破裂面。
斷口形貌學(xué) fractography
杯錐斷口 cup cone fracture：圓柱形拉伸試件于延性斷裂（韌性斷裂）后，一側(cè)的斷口呈杯狀，另一側(cè)的斷口呈錐狀，兩者合稱杯錐斷口。
絲狀斷口 silky fracture：表面光滑、有絲綢光澤的極細(xì)晶粒斷口。
纖維狀斷口 fibrous fracture：金屬或合金的延性足夠大，在斷裂前晶粒被拉長了從而總體看上去象許多纖維的斷口。
層狀斷口 lamination fracture：所含非金屬夾雜物在軋制過程中被延展成薄層的金屬材料垂直于軋制面的斷口。
貝殼狀斷口 conchoidal fracture：由許多同心圓圈組成的、好象貝殼狀的斷口。
金相學(xué) metallography：研究金屬和合金的內(nèi)部組織的學(xué)科。其主要內(nèi)容是借助于金相顯微鏡和電子顯微鏡研究金屬及合金的內(nèi)部組織以及化學(xué)成分、凝固條件、形變加工、焊接和熱處理等等所引起的內(nèi)部組織的變化和由之引起的性能的變化。
金相檢查 metallographic examination：用金相方法對金屬或合金的宏觀組織和顯微組織進(jìn)行的分析、研究或檢驗。
光學(xué)顯微鏡 optical microscope：利用反射光研究對可見光并不透明的金屬及合金的組織所用的顯微鏡。
鑲樣 mounting：將試樣的體積過小（例如絲材、薄帶等）或形狀復(fù)雜，從而不便于以手指捏持或夾具夾持時，將其鑲嵌于塑料（膠木粉等）或易熔合金等之內(nèi)的操作。
磨光 grinding：將金相試塊上欲進(jìn)行組織觀察的一面，用手工或在普通磨光機(jī)上以從粗到細(xì)的各號砂紙、砂布或磨料依次進(jìn)行研磨，或者用摻有各號粒度的磨料的蠟盤或MoS2盤依次進(jìn)行研磨，直到用最細(xì)的砂紙或磨料磨過為止。
拋光 polishing：將金相試塊上欲進(jìn)行金相分析的表面搞得平滑而光亮的操作。
浸蝕 etching：用某種方法（通常是用蝕刻劑）將金屬或合金的試塊拋光面上的組織顯露出來的操作。
浸蝕劑 etchant：使金屬或合金的拋光面上的組織特征或組織組分顯現(xiàn)出來用的化學(xué)試劑。
蝕坑 etch pit：精細(xì)拋光的金屬表面上由于深度化學(xué)蝕刻而形成的有規(guī)則形狀的小坑。
高溫顯微鏡 hot stage microscope：在高溫下研究金屬或合金的顯微鏡。
電子顯微鏡 electron microscope：利用高速運(yùn)動的電子束代替可見光的光束作為工作媒介制成的一種顯微鏡。
掃描電子顯微鏡scanning electron microscope, SEM：利用電子束在被研究試樣表面作規(guī)則地掃描而產(chǎn)生的二次電子和/或背散射電子等在顯像管的熒光屏上成像的電子顯微鏡（即掃描式電子顯微鏡）。
透射電子顯微鏡transmission electron microscope, TEM：利用電子束穿過被研究試樣（薄膜試樣或復(fù)型）而成像的電子顯微鏡（即透視式電子顯微鏡）。
復(fù)型 replica：透視電子顯微術(shù)用的一種試樣：以復(fù)型材料將經(jīng)過蝕刻的顯微磨面上的浮雕或者斷口的凹凸形貌復(fù)制下來而制備成的極薄的（對電子射線來說，具有很高的透明度）薄膜。
提取復(fù)型 extraction replica：為研究金屬或合金中的析出物和夾雜物而用蝕刻的方法將它們從基體上萃取到復(fù)型上面得到的一種復(fù)型。
投影復(fù)型 shadowed replica：為提高像的襯比或根據(jù)陰影長度測量浮凸的高度而用重金屬（Cr、Au、Pt、Pd等或者其合金）進(jìn)行過投影的復(fù)型。
襯度 contrast：底片、照片、熒光屏上的最亮部分與最暗部分或者最白部分與最黑部分的強(qiáng)弱差別。
取向襯度 orientation contrast：在經(jīng)過蝕刻的金屬或單相合金的顯微磨面上，因各個晶粒相對于磨面的晶體學(xué)取向之不同而造成的、各個晶粒之間的襯比。
相襯度 phase contrast：基于從試樣表面（具有微小的凹凸差別）反射回來的光線中的微小相位變化（即微小的相位差）所造成的試樣表面像內(nèi)不同區(qū)域之間的襯比。
衍射襯度 diffraction contrast：由于晶體的選擇衍射（滿足布喇格反射條件）而產(chǎn)生的襯比。
電子探針 electron microprobe：將由熱燈絲發(fā)射出來的電子，以靜電場加速，隨之以靜電透鏡聚焦到試樣表面極微小的一點(diǎn)上來激發(fā)該點(diǎn)（微體積）內(nèi)諸化學(xué)元素的標(biāo)志X射線，而后分析標(biāo)志X射線譜或∕和譜線的強(qiáng)度，以進(jìn)行該點(diǎn)的化學(xué)成分的定性或∕和定量分析的儀器。
俄歇電子能譜術(shù)Auger electron spectroscopy
場離子顯微鏡 field ion microscope：分辨本領(lǐng)極高的一種顯微鏡，它是在尖形試樣的尖端加上對熒光屏來說為正的高壓電勢，成象氣體（He、Ne或其它稀有氣體）在試樣尖端被電離為正離子，并從電離點(diǎn)徑向加速至熒光屏而成像。
原子探針 atom probe
掃描隧道顯微術(shù) scanning tunnelling microscopy, STM
穆斯堡爾譜術(shù) Mossbauer spectroscopy
正電子湮沒技術(shù)positron annihilation technique
X射線金相學(xué) X ray metallography：利用X射線研究金屬及合金的學(xué)科。
X射線衍射分析 X ray diffraction analysis：以X射線衍射為基礎(chǔ)的晶體結(jié)構(gòu)分析。
X射線形貌學(xué) X ray topography
X射線衍射花樣 X ray diffraction pattern：用照相方法記錄下來的、X射線被晶體衍射所產(chǎn)生的衍射花樣。
勞厄法 Laue method：用固定不動的單晶作試樣，以連續(xù)X射線進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的方法，以德國物理學(xué)家勞厄（M.T.F.V.Laue）的姓氏命名。
粉末法 powder method：使用粉末試樣或多晶體（細(xì)小晶體的集合體）試樣，以單色X射線拍攝X射線衍射花樣來進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的方法。
周轉(zhuǎn)晶體法 rotating crystal method：使作為試樣的單晶體繞一定軸轉(zhuǎn)動或擺動來進(jìn)行X射線衍射分析的方法。
極圖 pole figure：用極射赤面投影方法，以多晶金屬材料的一個特定面（例如，冷拉線材中垂直于其縱軸或者平行于其縱軸的截面；冷軋板材中的軋制平面即板面）作為投影面，將該材料中各個晶粒的同一特定晶面（{hkl}）表示在一個極射赤面投影圖上。這種極射赤面投影圖稱為“極圖”。
反極圖 inverse pole figure：將多晶金屬材料中的某一參考方向（例如，線材的縱軸；板材的軋制方向等）的分布密度表示在與該材料的晶體點(diǎn)陣相同的標(biāo)準(zhǔn)極射赤面投影圖上的軸分布圖。
極射赤面投影 stereographic projection：假設(shè)有一個球，其上端為北極，下端為南極，其中腰為赤道；再假設(shè)，將一個晶體或者晶體點(diǎn)陣中的一個晶胞置于球心處；由球心向諸晶面引垂線，這些垂線的延長線與球面相交，其交點(diǎn)稱為極點(diǎn)。然后再將北半球上的諸極點(diǎn)與南極引直線，而南半球上的諸極點(diǎn)與北極引直線；所有這些直線與赤道平面——投影面相交，此投影面上的諸交點(diǎn)就組成了晶體的極射赤面投影。
心射赤面投影 gnomonic projection：假設(shè)有一個球，其上端為北極，下端為南極，其中腰為赤道；再假設(shè)，將一個晶體或者晶體點(diǎn)陣中的一個陣點(diǎn)置于球心上；由球心向諸晶面引垂線，這些垂線的延長線與球面相交，其交點(diǎn)稱為極點(diǎn)。然后再由球心向諸極點(diǎn)引直線，并延長到與球的北極或南極相切的平面——投影面相交，此投影面上的諸交點(diǎn)就組成了晶體的心射赤面投影。
膨脹測量術(shù) dilatometry：研究金屬或合金試件于加熱和/或冷卻時的長度變化（膨脹和/或收縮）以尋找其相變點(diǎn)的技術(shù)。
示差膨脹測量術(shù) differential dilatometry：測量被測試件與標(biāo)準(zhǔn)件兩者的線膨脹量和/或線收縮量之差的膨脹測量術(shù)。
硫印 sulfur print：用硫印法檢測鋼中硫化物的分布狀況時，在照相紙上所印得的硫印痕。
無損檢測 non destructive testing：在不破壞被檢物的條件下來檢查材料缺陷的方法。
超聲檢測 ultrasonic testing：用超聲波檢查金屬體內(nèi)部缺陷的無損檢測。
磁粉檢測 magnetic particle inspection：利用極細(xì)的鐵磁性粉末（通常為磁性氧化鐵的粉末）檢驗鋼鐵等鐵磁性材料表面或靠近表面的宏觀缺陷（裂紋、非金屬夾雜物等）的無損檢測。
熒光磁粉檢測 fluorescent magnetic particle inspection：使用涂有在紫外線照射后能發(fā)出熒光的物質(zhì)的鐵磁性粉末的磁粉探傷。
X射線探傷 X ray radiographic inspection：使用X射線透射術(shù)進(jìn)行金屬材料或工件的內(nèi)部缺陷（例如裂紋、疏松、縮孔等）的無損檢驗。
γ射線探傷 γ ray radiographic inspection：使用γ射線透射術(shù)進(jìn)行金屬材料或工件的內(nèi)部缺陷（例如裂紋、疏松、縮孔等）的無損檢驗。
熒光液滲透探傷 fluorescent penetrant test：利用熒光滲透液的滲透探傷。“熒光液滲透探傷”是將添加了在紫外線照射后能發(fā)出熒光的物質(zhì)的滲透液，涂布于被檢物的表面，滲透液即滲入缺陷里去，隨之清除凈殘留在表面上滲透液，再以波長為330±30nm的紫外線照射之，缺陷處便發(fā)出熒火，由之顯示出缺陷的圖象。
渦流檢測 eddy current inspection：利用渦流現(xiàn)象的無損檢驗。
引伸計 extensometer：
測寬儀 width gauge：
測厚儀 thickness tester, thickness gauge
測壓儀 load cell
同位素測厚儀 isotopic thickness gauge
管材試驗機(jī) pipe testing machine
磁力探傷儀 magnetic flaw detector
宏觀組織 macrostructure：金屬和合金的金相磨面經(jīng)過適當(dāng)處理后，以肉眼或借助與放大鏡觀察到的組織。
顯微組織 microstructure：金屬和合金的金相磨面經(jīng)過適當(dāng)?shù)娘@露（例如蝕刻）后借助于顯微鏡所觀察到的組織。
共晶組織 eutectic structure：完全由共晶體所組成的組織。
分離共晶體 divorced eutectic：本來是共晶體但其組成相分離開了，即其中與共晶相變之前形成的相（先共晶相）相同的那個相，依附于先共晶相生長，并把另一相推向最后凝固的晶界處，從而失去了共晶體的特征，這就是說，共晶體中前一種相在顯微觀察時已經(jīng)看不出來了，而后一種相則游離出來、呈大塊狀，分布在晶界處。
層狀共晶體 lamellar eutectic：其內(nèi)至少有一種相是以片層狀存在的共晶體。
偽共晶體 pseudo eutectic：由成分偏離共晶成分的過冷熔體形成的、貌似共晶體的那種顯微組織或組分。
亞共晶體 hypoeutectic：由共晶體和共晶點(diǎn)左側(cè)的先共晶相所組成的組織。
過共晶體 hypereutectic：由共晶體和共晶點(diǎn)右側(cè)的先共晶相所組成的組織。
共析體 eutectoid：合金冷卻時其某一成分（共析成分）的固相（固溶體）在恒定溫度（共析溫度）下轉(zhuǎn)變而形成（“同時析出”即“共析”）的兩種或多種固相以固定比例組成的復(fù)相混合物。
偽共析體 pseudo eutectoid：由成分偏離共析成分的過冷固溶體形成的、貌似共析體那種顯微組織或組分。
亞共析體 hypoeutectoid：由共析體和共析點(diǎn)左側(cè)的先共析相所組成的組織。
過共析體 hypereutectoid：由共析體和共析點(diǎn)右側(cè)的先共析相所組成的組織。
包晶體 peritectic：合金在凝固過程中發(fā)生包晶相變所形成的產(chǎn)物。
包析體 peritectoid：合金于冷卻時發(fā)生包析相變所形成的產(chǎn)物。
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